A Rohde & Schwarz lança solução de teste para caracterização do desempenho de RF do DUT on-wafer
A solução é o resultado da combinação do poderoso analisador de redes vetoriais R&S ZNA da Rohde & Schwarz com o sistema de probe de engenharia da FormFactor, líder do mercado. Como resultado, os fabricantes de semicondutores podem realizar uma caracterização confiável e reproduzível de dispositivos on-wafer na fase de desenvolvimento, durante a qualificação do produto e na produção.
Para realizar essas medições essenciais, a Rohde & Schwarz está oferecendo o analisador de redes vetoriais, R&S ZNA, de última geração, que caracteriza todos os parâmetros de qualificação de RF em níveis coaxiais e de guia de onda, bem como extensores de frequência para aplicações nas faixas acima de 67 GHz.
A FormFactor aborda o contato do wafer com sistemas de probes manuais, semiautomatizados e totalmente automatizados, incluindo controle térmico, probes de alta frequência, posicionadores de probe e ferramentas de calibração. A calibração do sistema de teste completo, incluindo o R&S ZNA, é totalmente compatível com o software de calibração FormFactor WinCal XE.
Na configuração de teste, o usuário tem acesso a todos os recursos de teste do R&S ZNA graças à configuração totalmente calibrada. Testes genéricos de parâmetros S permitem a caracterização de filtros e dispositivos ativos, adicionalmente testes de distorção, ganho e intermodulação também podem ser realizados para caracterizar amplificadores de potência.
Outro exemplo das aplicações de medição realizadas por essa solução conjunta, é a medição de conversão de frequência no mixer com caracterização de fase em toda a largura de banda do dispositivo. As configurações totalmente calibradas também permitem que todos os resultados sejam obtidos diretamente no VNA sem pós-processamento, pois os dados de calibração são aplicados diretamente ao VNA.
Os extensores de frequência da Rohde & Schwarz habilitam frequências sub-THz, como a banda D, atualmente foco na pesquisa do 6G. Os extensores serão integrados à estação da probe para garantir o cabeamento mais curto e permitir uma faixa dinâmica ideal, evitando perdas devido ao cabeamento na ponta da probe.
Para obter mais informações sobre as características de RF caracterizadas no nível do wafer e como as soluções da FormFactor e da Rohde & Schwarz funcionam juntas, leia o app card:
https://www.rohde-schwarz.com/_56279-1241099.html
origem: https://www.mepax.com/privacy/
Sirlei Madruga de Oliveira
Editora do Guia do CFTV
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